是德科技芯片新技术与测试研讨会亮点回顾
日前，由张江高科、是德科技与 IC 咖啡联合主办的 “促进芯发展 走进科学城暨芯片新技术与测试研讨会”在张江芯片测试公共服务平台（上海市浦东新区秋月路26号6号楼）成功举办，会议聚焦全球半导体产业趋势、AI 技术创新及消费电子测试解决方案，吸引了行业专家、企业代表及科研人员参与，深入探讨技术挑战与市场机遇。
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2025-08-28
